SINS Beamline
Technische Beschreibung:
Beamline für Oberflächen– und Nanostruktur– Untersuchungen (SINS)
Photoemissions-Spektroskopie (PES)
Photoemissions-Elektronenmikroskopie (PEEM)
Photodesorptions-Spektroskopie mit RöntgenAnregung (XPD)
Röntgen-Spektroskopie (SXMCD)
Absorptions-Spektroskopie (NEXAFS, XANES)
Technische Daten:
| Strahlungsquelle: | Dipol | |
| Energiebereich: | 50 ... 1400 eV | |
| Photonenfluß an Probe: | ca. 1011 Ph / s / 100 mA | |
| Auflösung an Probe: | > 5000 | |
| Strahlleistung: | ca. 2 kW (vor Spiegel 1) | |
| Monochromator: | Dragon–Monochromator (FMB) 4 wechselbare Si–Gitter | |
| Spiegel: | 2 fokussierende Spiegel mit Bending–Systemen (IRELEC) Refokussierspiegel (IRELEC) |
|
| Strahldiagnostik: | Strahllage–Monitore, Intensitäts–Monitor, Fluoreszenz–Monitore, Polarisations–Monitor, Strahlprofil–Monitore |
Kunde & Zeitraum:
| Kunde: |
Singapore Synchrotron Light Source (SSLS) | |
| Realisierungszeitraum: |
April 2001 bis Juli 2002 |
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September 8, 2022
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